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干法激光粒度儀是行業(yè)中的榜樣

更新時(shí)間:2014-08-27      點(diǎn)擊次數(shù):2598
      干法激光粒度儀當(dāng)光線通過不均勻介質(zhì)時(shí),會(huì)發(fā)生偏離其直線傳播方向的散射現(xiàn)象,它是由吸收、反射、折射、透射和衍射的共同作用引起的。散射光形式中包含有散射體大小、形狀、結(jié)構(gòu)以及成分、組成和濃度等信息。因此,利用干法激光粒度儀光散射技術(shù)可以測(cè)量顆粒群的濃度分布與折射率大小,還可以測(cè)量顆粒群的尺寸分布。
  選購(gòu)干法激光粒度儀的*要素是測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性:現(xiàn)在市面上的干法激光粒度儀它們的性能和質(zhì)量參差不齊。先不不談做工好壞,影響干法激光粒度儀性能的主要因素有:儀器的硬件設(shè)計(jì)是否合理;儀器的軟件算法是否準(zhǔn)確;儀器的理論基礎(chǔ)是否先進(jìn)。不過,想要真正了解某一臺(tái)干法激光粒度儀的測(cè)試準(zhǔn)確性和重復(fù)性,zui直接的方法還是用樣品進(jìn)行測(cè)試比較,所以說我們建議:在選購(gòu)干法激光粒度儀之前,首先要對(duì)樣品進(jìn)行實(shí)際測(cè)試。
  根據(jù)被測(cè)試顆粒的性質(zhì)特點(diǎn)選購(gòu)相應(yīng)的干法激光粒度儀:干法激光粒度儀一般來(lái)說根據(jù)分散介質(zhì)的不同可分為干法和濕法兩種。干法測(cè)量的顆粒種類較多,但是測(cè)試量程不如濕法大,而且價(jià)格也要昂貴的多,所以首先弄清楚顆粒的性質(zhì)再選擇相應(yīng)的儀器種類是*必要的。
  綜合考慮性價(jià)比,選擇zui合適的干法激光粒度儀:從整體水平來(lái)說,國(guó)外的干法激光粒度儀性能優(yōu)于國(guó)內(nèi),但價(jià)格也要高出數(shù)倍,同時(shí),要說明的是:國(guó)內(nèi)測(cè)試水平的不足其實(shí)于在納米級(jí)顆粒,在0.1微米以上的顆粒測(cè)試中,國(guó)內(nèi)的產(chǎn)品比國(guó)外的產(chǎn)品毫不猻色。因此,如果您需要測(cè)試的顆粒級(jí)數(shù)在0.1微米以上,選擇性能*的國(guó)產(chǎn)品不失為明智之舉。
  干法激光粒度儀由激光器(一般為He-Ne激光器或半導(dǎo)體激光器)發(fā)出的光束。經(jīng)空間濾波器和擴(kuò)束透鏡后,得到了一個(gè)平行單色光束,該光束照射到由分散系統(tǒng)傳輸過來(lái)的顆粒樣品后發(fā)生散射現(xiàn)象。研究表明,干法激光粒度儀散射光的角度和顆粒直徑成反比,散射光強(qiáng)隨角度的增加呈對(duì)數(shù)衰減。這些散射光經(jīng)傅立葉透鏡后成像在排列有多環(huán)光電探測(cè)器的焦平面上。干法激光粒度儀多環(huán)探測(cè)器上的中央探測(cè)器用來(lái)測(cè)定樣品的體積濃度,外圍探測(cè)器用來(lái)接收散射光的能量并轉(zhuǎn)換成電信號(hào),而散射光的能量分布與顆粒粒度分布直接相關(guān)。干法激光粒度儀通過接收和測(cè)量散射光的能量分布就可以反演得出顆粒的粒度分布特征。
  干法激光粒度儀主要依據(jù)Fraunhofer 衍射和Mie散射兩種光學(xué)理論。下面就干法激光粒度儀散射理論的發(fā)展歷史作簡(jiǎn)要闡述:
  散射理論的研究開始于上一世紀(jì)的70年代。1871年,瑞利(Lord Rayleigh)首先提出了的瑞利散射定律,并用干法激光粒度儀電子論的觀點(diǎn)解釋了光散射的本質(zhì)[ 1 ]。瑞利散射定律的適用條件是散射體的尺寸要比光波波長(zhǎng)小。1908年,米氏(G. Mie)通過電磁波的麥克斯韋方程,解出了一個(gè)關(guān)于干法激光粒度儀光散射的嚴(yán)格數(shù)學(xué)解,得出了任意直徑、任意成分的均勻粒子的散射規(guī)律,這就是的米氏理論[ 2 ]。1957年, H. C. Van de Hulst 出版了關(guān)于干法激光粒度儀現(xiàn)象的專著,總結(jié)了粒子散射的普遍規(guī)律,受到科技界人士的廣泛注意,這本專著被認(rèn)為是光散射理論領(lǐng)域的經(jīng)典文獻(xiàn) [3]。1969年,M . Kerker 系統(tǒng)論述了光及電磁波散射的一般規(guī)律,為干法激光粒度儀散射理論的進(jìn)一步發(fā)展做出了貢獻(xiàn)[ 4 ]。1983年,C. F. Bo hren ,O. R. Huff man綜合前人的成果,又發(fā)表了關(guān)于干法激光粒度儀吸收的一般規(guī)律,更全面地解釋了光的各種散射現(xiàn)象[ 5 ]。至此,散射理論的體系建立起來(lái)了。
  1976年J . Swit henbank 等人利用米氏理論在時(shí)( d為散射粒子的直徑,λ為光波波長(zhǎng))的近似式 ——夫瑯和費(fèi)(Franhofer)衍射理論發(fā)展了干法激光粒度儀[ 6 ],開辟了散射理論在計(jì)量測(cè)試中的又一新領(lǐng)域。由于光散射法適用范圍寬,測(cè)量時(shí)不受顆粒光學(xué)特性及電學(xué)特性參數(shù)的影響,因此在隨后的三十年時(shí)間內(nèi)已成為粒度計(jì)量中zui為重要的方式之一。
  但是不管再怎么出色的儀器,也離不開售后服務(wù),因?yàn)楦煞す饬6葍x是高科技精密儀器,為保證其測(cè)試精度,定期的維護(hù)*,在沒有良好售后服務(wù)的廠家購(gòu)買產(chǎn)品,使用時(shí)毫無(wú)保障,儀器一旦出現(xiàn)故障,廠家逃避責(zé)任、推委搪塞。儀器故障無(wú)法及時(shí)排除,影響正常使用,給您造成損失,所以我們提醒您,請(qǐng)到有實(shí)力、有信譽(yù)的廠家購(gòu)買干法激光粒度儀,以避免后顧之憂,所以的售后服務(wù)是干法激光粒度儀正常使用的保障。
 
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