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簡要描述:BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測系統(tǒng)。
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹
BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準(zhǔn)確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。
基本性能指標(biāo)
粒徑檢測
原理 | 動態(tài)光散射技術(shù) |
粒徑范圍 | 0.3 nm – 10 μm |
樣品量 | 40 μL – 1 mL |
檢測角度 | 173 ° + 12° |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
Zeta電位測試
原理 | 相位分析光散射技術(shù) |
檢測角度 | 12° |
Zeta范圍 | 無實際限制 |
電泳遷移率范圍 | >±20 μm.cm/V.s |
電導(dǎo)率范圍 | 0 - 260 mS/cm |
Zeta測試粒徑范圍 | 2 nm – 120 μm |
分子量測試
分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測試
測試能力 | 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span> |
粘度和折光率測試
粘度范圍 | 0.01 cp – 100 cp |
折光率范圍 | 1.3-1.6 |
趨勢測試
時間和溫度 |
系統(tǒng)參數(shù)
溫控范圍 | -15°C - 110°C,精度±0.1°C |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮?dú)?/span> |
標(biāo)準(zhǔn)激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器, 671 nm |
相關(guān)器 | 最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態(tài)線性范圍 |
檢測器 | APD (高性能雪崩光電二極管) |
光強(qiáng)控制 | 0.0001% - 100%,手動或者自動 |
軟件
中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
檢測參數(shù)
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布
●分子量
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●流體力學(xué)直徑 DH
●顆粒間相互作用力因子 kD
●溶液粘度
檢測技術(shù)
●動態(tài)光散射
●電泳光散射
●靜態(tài)光散射
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